1/3" CCD 광학적인 측정 시스템 시험 측정 계기 프로그램 조절

1/3" CCD 광학적인 측정 시스템 시험 측정 계기 프로그램 조절

모형: IN-2010S/IN-3020S/IN-4030S/IN-5040S

목적:

시장 수요에 따라 우리의 회사가 연구하고 발육된 높은 비용 효과적인 측정 계기입니다. 이 제품에는 그것의 유일한 설계 원리 및 강한 독립적인 연구와 개발 소프트웨어가 있고, 가동을 위해 쉽습니다, 배치 정밀도 성분의 차원 측정을 위해 적당한.

그것에는 전자 부품에 정밀도 측정, 부속, PCB 널, 나사의 회전, 장치, 모양 절단기 및 다른 부속을 각인하는 정밀도 형이 있을 수 있습니다. 그것은 고등 학문 연구소, 측정 검증 부의 연구소, 실험실, 측정 방 및 생산 부로 점차적으로 들어가고, 또한 복잡한 모양을 가진 편평한 부분의 개략과 표면 모양의 정밀도 측정을 위해 사용됩니다.

신청:

그것은 전자공학의 기업에, 기계장치, 계기, 시계 및 시계, 경공업, 전쟁 기업 및 우주선 및 항공, 등 적용합니다.

기능:

수동 가동 제 2 기하학 측정은, 단면도 스캐닝의 기본적인 3D 측정, 기하학적인 포용력 평가 및 역공학 측정을 깨달을 수 있습니다.

특징:

1. 완전한 기계의 기초 및 대 란은 전부 가까운 구조 및 높은 안정성과 더불어 고밀도와 높 정밀도 화강암을, 채택합니다.

2. 높은 감마재 계수와 더불어 높 정밀도 무쇠 이동하는 플랫폼은, 및 강한 내식성 및 기계 안정되어 있습니다 때

    이동하는 측정.

3. 광원에 기인하는 측정 정밀도에 영향을 피하는 광원 및 일정한 현재 드라이브에 테를 다는 풀그릴 LED

    문제.

4. 그것은 자동적으로 가장자리를 찾아내고 제품 넝마를 수 있어, 측정에게 정밀도를 더 하는 붙잡기의 영 과실을 제거할 보장하.

5. 수동 단면도 스캐닝 및 스캐닝 결과는 제 2 단면도를 측정하 것을 쉬운 하는 CAD를 수입할 수 있습니다. 그것은 또한 MAGIG에 당기는 CAD를 수입할 수 있습니다

    빠른 대조에 DMIS 소프트웨어.

6. 수동 사진 기능에는, 전면적의 파노라마 사진술이 있고을, 각 측정 보고 개간자를 만드는 사진에 있는 어떤 크기든지 편집할 수 있습니다

    그리고 더 완전한.

7. 감소시키는 각 단계의 질 상태에 관하여 알기 위하여 그것을 측정 직원을 위해 더 정확한 만드는 강력한 SPC 신청 기능,

    열등 뿐 아니라 불량품 비율의 비용.

8. 국가 특허 기술 및 그것의 핵심 산법을 신청하는 독자적으로 연구하고 개발된 MAGIC-DMIS 측정 소프트웨어,

    권위 증명서를 얻었습니다. 그것은 강력합니다, 기하학적인 포용력 크기의 결합한 측정을 포함하여 제품의 제 2 크기를, 를 위한 편집할 수 있습니다 

    점, 선, 아크, 각, straightness, 편평함, 원형 정도 및 cylindricity, 등.

명세: